Qualitäts- und Fehleranalyse

Thema

Industrielle Bauteiluntersuchung mittels 3D-Röntgenprüfung oder lichtoptischen 3D-Methoden

Mit modernen 3D-Röntgenverfahren wie der Mikro-Computertomographie (Mikro-CT) oder der hochauflösenden Computerlaminographie ist das Fraunhofer IKTS in der Lage, Fehler zu detektieren, innere Strukturen in Bauteilen sichtbar zu machen und weitere Informationen aus Prüfobjekten zu gewinnen. Damit sind diese Röntgenverfahren bestens geeignet, um Vollständigkeitsuntersuchungen, Porenanalysen, Voidanalysen oder auch Maßhaltigkeitsanalysen durchzuführen. Aus den mittels Durchstrahlung der Bauteile gewonnenen Rohdaten werden dreidimensionale Abbildungen für die zerstörungsfreie Materialdiagnostik berechnet, aus denen wiederum beliebige Schnittbilder erzeugt werden können. So lassen sich in den 3D-Röntgenaufnahmen von Leiterplatten, Batterien, Aluminium-Druckgussteilen, Keramikkomponenten, CFK-Bauteilen oder Kunst- und Kulturobjekten Materialfehler wie Einschlüsse, Risse oder Poren hochaufgelöst darstellen.

 

Thema

Industrielle Mikro-Computer-tomographie (Mikro-CT)

 

Thema

Hochauflösende Computerlaminographie (HRCL) für elektronische Bauelemente

 

Thema

3D-Profilometrie und digitale Mikroskopie zur Analyse von elektronischen Mikrosystemen

 

Thema

Optische Verformungsfeld-messungen

 

nanoeva®: Kompetenzzentrum zur Prüfung von Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik

 

Thema

Weitere Methoden der Fehleranalyse