IKTS ist Gastgeber für Fachtagung zu Halbleiterprozess-Zuverlässigkeit und -Simulation
Vom 23. bis 25. Mai 2022 treffen sich im Rahmen der VDE ITG-Fachtagung Halbleiterfirmen, Universitäten und Forschungseinrichtungen am Fraunhofer IKTS in Dresden-Klotzsche, um Entwicklungen im Bereich der Elektronik-Zuverlässigkeit zu diskutieren.
Die Tagung der VDE ITG MN-Fachgruppe 5.6 »(fast)WLR/Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeits- Simulation & Qualifikation« steht ganz im Zeichen des Aufbruchs der Halbleiterindustrie Europas (Chip Act) und Deutschlands, den Schwierigkeiten bei der Transformation der Automobilindustrie, der wachsenden Bedrohung durch Cyberangriffe und den immensen Herausforderungen im Bereich der Elektronik-Zuverlässigkeit. Bewerte Zuverlässigkeitsstandards werden obsolet; neue übergreifende Entwurfskonzepte, Methoden, Tools und Modelle rücken in den Fokus.
Das abwechslungsreiche Vortragsprogramm widmet sich Themen, wie Zuverlässigkeit der Metallisierung, MOS Transistor-Zuverlässigkeit, Simulation von Zuverlässigkeitseffekten, parallele Messungen für Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Aspekte der Zuverlässigkeitsuntersuchungen während der Prozess-Qualifikation, Zuverlässigkeitsanforderungen und -untersuchungen für die Automobil-Industrie, Mission-Profile Analysen, Wechselwirkung von Safety/Security. Ein Rundgang durch die Labore des Fraunhofer IKTS am Standort in Dresden-Klotzsche runden das Programm ab.
ITG ist die Informationstechnische Gesellschaft im VDE (Verein deutscher Elektroingenieure).