Zuverlässigkeit von elektronischen Mikrosystemen

Gruppe


Für die Systemzuverlässigkeit von Elektronik, Mikrosystemen und technischen Anlagen bietet die Gruppe »Zuverlässigkeit von elektronischen Mikrosystemen« des Fraunhofer IKTS

  • numerische Simulationen zur Designauslegung, 
  • Materialcharakterisierungen von Einzel- und Verbundwerkstoffen der Aufbau- und Verbindungstechnik (AVT), 
  • Zuverlässigkeitsbewertungen, 
  • In-Situ Messungen von Beanspruchungen sowie 
  • zerstörungsfreie Prüftechniken an. 

Bei der Auslegung von Baugruppen in Bezug auf die Systemzuverlässigkeit fokussieren wir auf

  • die Messung, Berechnung und Analyse anliegender Belastungen sowie 
  • deren Einfluss auf das Systemdesign.
 

Qualitäts- und Fehleranalyse

 

Materialcharakterisierung für  FEM-geeignete Werkstoffmodelle

 

FEM-gestützte Auslegung von Elektronik für die Produktzuverlässigkeit

 

Modelle für Lebens- und Nutzungsdauer für hohe Nachhaltigkeit

 

 

Zustandsüberwachung und Prognostic Health Management für Elektronik

 

 

Umweltprüftechnik mit Insitu-Messung elektrischer Kennwerte

 

Forschungsprojekte

 

 

Kooperationen

 

 

Publikationen