Elektronik auf Zuverlässigkeit auszulegen, bedeutet ihr Design anhand von definierten Einsatzszenarien für einen definierten Mindestfunktionszeitraum zu optimieren. Daher ist es im Elektronikentwicklungsprozess wichtig, verschiedene Designs mithilfe von Lebensdauermodellen entsprechend ihrer Ausfallwahrscheinlichkeiten bewerten zu können.
Das Fraunhofer IKTS ist dank seiner Ausstattung an Zug-, Druck- und Schermaschinen, Temperaturwechsel- und Klimakammern, Shakern und In-situ-Messtechnik in der Lage, Lebensdauermodelle von der Komponente bis zur Baugruppe nach kundenspezifischen Lastszenarien abzuleiten.