최신 X선 방법은 기존의 NDT 방법을 사용하여서는 해결하기가 매우 어렵거나 불가능한 문제를 해결하는 데 사용할 수 있습니다. 우리 연구소에서 X선 방법은 방사선 흡수율이 높은 소재를 투과해야 하는 모든 곳에 대해 사용됩니다. 이를 통해 표면 장력에 대한 체적 테스트 및 기타 조사를 다양한 소재 및 형상의 샘플에 대해 수행할 수 있습니다. 산업 현장에서의 소재에 대한 적용 외에도 고고학적 발견, 악기 또는 예술품에 대한 비파괴 검사도 포함됩니다.
프라운호퍼 IKTS에서 마이크로 컴퓨터 단층 촬영(micro-CT)은 산업 구성 요소의 검사와 점점 더 많은 발견품/예술품 등의 검사에 사용됩니다. 높은 공간 분해능으로 기공, 균열 또는 기타 소재 불균일성을 시각화하는 데 이상적입니다. 프라운호퍼 IKTS의 마이크로 CT 시스템은 고객 요구 사항에 따라 각 검사 작업 또는 검사 형상에 맞게 조정할 수 있습니다.
HRCL(고해상도 계산 적층)은 프라운호퍼 IKTS Dresden에서 개발한 독점 X선 단층 촬영 기술로, 대면적 및 평면 회로 캐리어의 작은 영역을 고해상도로 비파괴적으로 검사하는 데 사용할 수 있습니다. 수정된 측정 설정과 알고리즘의 재구성으로 인한 최적화로 시간이 많이 소요되는 샘플 준비가 필요하지 않습니다.
X선 회절은 프라운호퍼 IKTS에서 혼합물의 물질 조성을 결정하는 데 사용하는 방법입니다. 이 과정에서 X선은 결정이나 준결정과 같은 질서정연한 구조에서 회절되어 회절강도 분포를 측정합니다.
또한, 프라운호퍼 IKTS는 Sinus2y 방법으로 잔류 응력을 결정하기 위해 X선 회절을 사용합니다. 샘플은 특정 범위 y(Psi)만큼 반사적으로 기울어집니다. 시편에 대한 잔류 응력의 분포를 결정하기 위해 다양한 지점에서 측정하지만, 최소한의 영역(가장자리, 모서리 및 중앙)에서 수행됩니다.
X선 검출기는 일반적으로 대상을 연속하여 검사해야 하거나, 물체의 크기가 원치 않는 산란 방사선을 피하기 위해 스트립 모양의 조명만 허용하는 경우에 사용됩니다. 프라운호퍼 IKTS에서 개발한 L100 라인 검출기는 ASIC(고객 맞춤 개별 회로)로 구성되어 비용 효율적인 생산과 다양한 구성(특히 모든 크기)이 가능합니다. 또한 새로운 유형의 감지기는 직접 변환 작업을 수행합니다. 그 결과, 기존의 검출기 원리와 달리 분해능과 속도가 크게 증가합니다. 또한 단일 광자 감지 덕분에 X선 광자 에너지를 평가할 수 있습니다. 이것은 소재가 구성에서 차별화되는 "이중 에너지" 응용을 가능하게 합니다.
Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems IKTS